Meller Optics, Inc.は、創業100年を超える米国の光学部品製造メーカです。
高精度光学部品の加工を得意とし、サファイア、スピネル、ALON®、ZnS、Ge、Si、光学ガラスなど、硬質材料の加工が可能です。
柔らかい素材と非常に硬い素材が得意分野です。
セレン化亜鉛は10Å（RMS）の仕上げが可能。
サファイアは2Å(RMS)まで仕上げ可能。
The Very Soft and Extremely Hard Materials are our Forte.
Zinc Selenide : Able to finish to a 10 Angstroms RMS surface roughness
Sapphire : Able to finish to 2 Angstrom RMS surface roughness
PROCESS
サファイア・ウィンドウズ
結晶方位
全ての結晶方位（c、a、m、r 面）
c 面が好ましい
サイズ制限
直径 3.00mm から450.00mm
厚さ 0.25mm から100.00mm
100:1 最大アスペクト比
平行度：最大2 Arc Seconds
透過波面誤差
1/20 波長ピーク・ツー・バレー最大@633nm
任意の2.00 "サブアパーチャ上、250.00mm で
直径サイズ制限
表面品質：10-5（MIL-PRF-13830 準拠
表面粗さ：最大2Å(RMS)
Sapphire Windows
Crystallographic Orientations
All Crystal Orientations (c, a, m, and r
Planes)
c-Plane is Preferred
Size Limitations
Diameters: 3.00mm to 450.00mm
Thicknesses: 0.25mm to 100.00mm
100:1 Maximum Aspect Ratio
Parallelism: 2 Arc Seconds Maximum
Transmitted Wavefront Error:
1/20 Wave Peak-to-Valley Maximum @
633nm
Over any 2.00” Sub-Aperture, With a
250.00mm
Diameter Size Limitation
Surface Quality: 10-5 per MIL-PRF-13830
Surface Roughness: 2 Angstroms RMS Maximum
その他のサファイア部品
サファイア球面レンズ
サファイアプリズム
サファイアウェーブプレート
非光学用途
サファイア多孔ウェハーキャリア
サファイアスペーサーとウェアパッド用途
Other Sapphire Components
Sapphire Spherical Lenses
Sapphire Prisms
Sapphire Waveplates
Non-Optical Applications:
Sapphire Perforated Wafer Carriers
Sapphire Spacers and Wear Pad Applications
結晶方位：c面
サイズ制限
直径 10.00mmから150.00mm
壁の厚さ 最小1.00mm
50:1 最大アスペクト比
ウェッジ誤差 最大3Arc second
表面精度
パワー：633nmで最大4フリンジ
2.00 "サブアパーチャ以上
不規則性：最大2フリンジ@633nm
任意の2.00 "サブアパーチャにわたって
表面品質：20-10（MIL-PRF-13830準拠）
表面粗さ：最大10Å(RMS)
Sapphire Domes
Crystallographic Orientation: c-Plane
Size Limitations
Diameters: 10.00mm to 150.00mm
Wall Thicknesses: 1.00mm Minimum
50:1 Maximum Aspect Ratio
Wedge Error: 3 arc Minutes Maximum
Surface Accuracy:
Power: 4 Fringes Maximum @ 633nm
Over any 2.00” Sub-Aperture
Irregularity: 2 Fringes Maximum @ 633nm
Over any 2.00” Sub-Aperture
Surface Quality: 20-10 per MIL-PRF-13830
Surface Roughness: 10 Angstroms RMS Maximum
計測
6インチZygo Verifire水平干渉計
4インチZygo Verifire垂直干渉計
ザイゴZeGage干渉表面分析顕微鏡
EFG-ベルリンX線回折装置
キーエンス XM-C1000 CMM
インターオプティクス オプトフラット
Zeiss Stemi 2000-C 50倍顕微鏡
エドモンドツインヘッドゲージブロックコンパレータ
4" x 4" マイクロVU測定システム
Metrology
6” Zygo Verifire Horizontal Interferometer
4” Zygo Verifire Vertical Interferometer
Zygo ZeGage Interferometric Surface Analyzer Microscope
EFG-Berlin X-Ray Diffractometer
Keyence XM-C1000 CMM
Interoptics Opto Flat
Zeiss Stemi 2000-C 50x Microscope
Edmunds Twin Head Gage Block Comparator
4” x 4” Micro-VU Measuring System
Gugolz Pitch
Gugolz Pitchは、光学研磨ピッチのプレミアムグレードとして世界的に認められています。5つの硬度グレードがあり、どのような研磨条件にも適合するように、混合することもできます。当社では73-Mediumが在庫でございます。
Specifications:
|
融点 Melting Point |
引火点 Flash Point |
燃焼点 Burn Point |
軟化点 Softening Point |
|
|---|---|---|---|---|
| 55 – Very Soft | 72°C | 246° | 278° | 63°-64°C |
| 64 – Soft | 68° – 72°C | 229° | 262° | 65°-68°C |
| 73 – Medium | 77° – 80°C | 219° | 254° | 71°-74°C |
| 82 – Hard | 77° – 80°C | 210° | 246° | 75°-77°C |
| 91 – Very Hard | 84° – 87°C | 213° | 252° | 78°C |
青字のMediumは在庫がございます。